JIS C2151-2019 pdf download.電気用プラスチックフィルム試験方法.
この規格は，
電気機器，電子機器，電線，その他一般の電気絶縁用及びコンデンサの誘電体用として用いる電気用プラスチックフィルムの試験方法について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。 IEC 60674-2:2016，Specification for plastic films for electrical purposes−Part 2: Methods of test（MOD） なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”ことを示す。
2 引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。 JIS B 7502 マイクロメータ JIS C 2107:2011 電気絶縁用粘着テープ試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60454-2:2007，Pressure-sensitive adhesive tapes for electrical purposes−Part 2: Methods of test（MOD）
JIS C 2110-1 固体電気絶縁材料−絶縁破壊の強さの試験方法−第1部：商用周波数交流電圧印加による試験
注記 対応国際規格：IEC 60243-1:2013，Electric strength of insulating materials−Test methods−Part 1: Tests at power frequencies（IDT） JIS C 2110-2 固体電気絶縁材料−絶縁破壊の強さの試験方法−第2部：直流電圧印加による試験
注記 対応国際規格：IEC 60243-2，Electric strength of insulating materials−Test methods−Part 2: Additional requirements for tests using direct voltage（IDT）
JIS C 2138 電気絶縁材料−比誘電率及び誘電正接の測定方法
注記 対応国際規格：IEC 60250:1969，Recommended methods for the determination of the permittivity and dielectric dissipation factor of electrical insulating materials at power, audio and radio frequencies including metre wavelengths（MOD）
3 試験に関する一般注意事項
3.1 試験片を採取する前に，試験をするロール（以下，ロールという。）から最初の3層以上のフィルムを切り捨てる。
3.2 試験片を採取する前に，ロールは，温度23 ℃±2 ℃で相対湿度（50±5）%の標準雰囲気に24時間以上置く。特に規定がない場合，全ての個々の試験片は，これと同じ標準雰囲気中で1時間状態調節した後試験する。
4 厚さ
4.1 一般的事項 フィルムの厚さは，JIS C 2318，JIS C 2322，JIS C 2330，IEC 60674-3-3，IEC 60674-3-4又はIEC 60674-3-7（以下，電気用プラスチックフィルム材料個別規格群という。）の規定に従って，次のいずれかの方法及び／又は複数の方法によって測定する。
4.2 機械的走査による厚さの測定
4.2.1 一般的事項 測定方法には1枚の試験片を用いる方法と積み重ねた試験片を用いる方法とがある。それぞれの方法を，次に示す。
4.2.2 1枚の試験片による測定 4.2.2.1 原理 この方法は，1枚の試験片の厚さを測定するJIS K 7130:1999の3. に規定するA法を基にしている。
4.2.2.2 試験片及び測定位置 試験片は，試料の幅方向から，幅約100 mmの細長い片を3枚切り取る。試験片は，しわ又はほこりによる汚れなどの欠点がないものを用いる。 厚さは，測定面が平面又は球面のマイクロメータを用い，JIS K 7130:1999の3. に規定するA法によって測定する。 測定点は，試験片の長さ方向にほぼ等間隔に9点とする。ロールの幅が300 mm以下の場合は，試験片の長さ方向に沿って50 mm間隔で測定する。トリミングしていないロールでは，端面から50 mm以内の値は読まない。
4.2.2.3 結果 フィルムの厚さは，全ての測定値の平均値とし，個々の試験片の最大値及び最小値も報告書に記載する。
4.2.3 複数枚の試験片による測定 バルク厚さ（マイクロメータ法厚さ）は，試験片を採取する方法が異なる点を除き，JIS P 8118の規定によって測定する。ただし，受渡当事者間の合意がある場合，JIS B 7502に規定する測定長25 mm以下で，JIS C2151 pdf download.